Мои Конспекты
Главная | Обратная связь

...

Автомобили
Астрономия
Биология
География
Дом и сад
Другие языки
Другое
Информатика
История
Культура
Литература
Логика
Математика
Медицина
Металлургия
Механика
Образование
Охрана труда
Педагогика
Политика
Право
Психология
Религия
Риторика
Социология
Спорт
Строительство
Технология
Туризм
Физика
Философия
Финансы
Химия
Черчение
Экология
Экономика
Электроника

Типы кристаллических твердых тел





Помощь в ✍️ написании работы
Поможем с курсовой, контрольной, дипломной, рефератом, отчетом по практике, научно-исследовательской и любой другой работой

Существует два признака для классифи­кации кристаллов: 1) кристаллографиче­ский; 2) физический (природа частиц, рас­положенных в узлах кристаллической ре­шетки, и характер сил взаимодействия между ними).

1. Кристаллографический признак кристаллов.В данном случае важна толь­ко пространственная периодичность в рас­положении частиц, поэтому можно от­влечься от их внутренней структуры, рас­сматривая частицы как геометрические точки.

Кристаллическая решетка может об­ладать различными видами симметрии. Симметрия кристаллической решетки —ее свойство совмещаться с собой при не­которых пространственных перемещениях, например параллельных переносах, пово­ротах, отражениях или их комбинациях и т. д. Кристаллической решетке, как до­казал русский кристаллограф Е. С. Федо­ров (1853—1919), присущи 230 комбина­ций элементов симметрии, или 230 различ­ных пространственных групп.

С переносной симметрией в трехмер­ном пространстве связывают понятие трехмерной периодической структуры — пространственной решетки,или решетки Бравэ,представление о которой введено французским кристаллографом О. Бравэ (1811 —1863). Всякая пространственная решетка может быть составлена повторе­нием в трех различных направлениях од­ного и того же структурного элемента — элементарной ячейки.Всего существует 14 типов решеток Бравэ, различающихся по виду переносной симметрии. Они рас­пределяются по семи кристаллографиче­ским системам,или сингониям,представ­ленным в порядке возрастающей симмет­рии в табл. 3. Для описания элементар­ных ячеек пользуются кристаллографиче­скими осями координат, которые проводят параллельно ребрам элементарной ячейки,

а начало координат выбирают в левом углу передней грани элементарной ячейки. Элементарная кристаллическая ячейка представляет собой параллелепипед, по­строенный на ребрах а, b, с с углами a, b и g между ребрами (табл. 3). Величины а, b и с и a, b и g называются параметрами элементарной ячейкии однозначно ее оп­ределяют.

 

 

Доверь свою работу ✍️ кандидату наук!
Поможем с курсовой, контрольной, дипломной, рефератом, отчетом по практике, научно-исследовательской и любой другой работой



Поиск по сайту:







©2015-2020 mykonspekts.ru Все права принадлежат авторам размещенных материалов.